Đại học Bách Khoa Hà nội
HANOI UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
EN
Nguyễn Đức Thuận
Personal Information
Master
School of Electrical – Electronics
Advanced Instrumentation for Diagnosis and Predict Lab
C7-401, Hanoi University of Science and Technology, Hanoi
Nguyen Duc Thuan is a Lecturer at the School of Electrical and Electronic Engineering, Hanoi University of Science and Technology (HUST), Vietnam. He holds B.S. and M.S. degrees in Control Engineering and Automation, and a Ph.D. in Artificial Intelligence and Computer Engineering. His work bridges intelligent systems, sensing technologies, and data-driven modeling, focusing on digital twin applications, advanced measurement, and predictive maintenance.
Research Interests
Intelligent systems, sensing technologies, and data-driven modeling, focusing on digital twin applications, advanced measurement, and predictive maintenance.
Master. Nguyễn Đức Thuận
Scientific Publications
Inspection of mixed-type wafer defects from single-defect data via adaptive synthesis and self-attention CNN
Inspection of mixed-type wafer defects from single-defect data via adaptive synthesis and self-attention CNN
Tạp chí/Proceedings:
Measurement (10.1016/j.measurement.2025.118306)
Tác giả:
Nguyen Duc Thuan
Lĩnh vực nghiên cứu:
Công nghệ dữ liệu, AI và hệ thống thông minh, Các công nghệ thông minh trong sản xuất công nghiệp, giao thông, đô thị, Khoa học thông tin và máy tính, Điện - Điện tử
Loại công bố:
Tạp chí SCIE (Q1)
Thời gian:
11/2025
A real-time framework for early detection and severity prediction of thermal runaway in Li-ion batteries
A real-time framework for early detection and severity prediction of thermal runaway in Li-ion batteries
Tạp chí/Proceedings:
Journal of Energy Storage (10.1016/j.est.2025.118310)
Tác giả:
Le Anh Vu, Hoang Si Hong, Le Tri Quang, Pham Van Giang, Dang Thi Binh, Nguyen Duc Thuan, Nguyen Hai Ha
Lĩnh vực nghiên cứu:
Năng lượng và môi trường bền vững, Công nghệ dữ liệu, AI và hệ thống thông minh, Điện - Điện tử
Loại công bố:
Tạp chí SCIE (Q1)
Thời gian:
09/2025
Intellectual Property
QUY TRÌNH CHẨN ĐOÁN LỖI Ở TRỤC CHO ĐA Ổ TRỤC BẰNG TÍN HIỆU RUNG
Thời gian:08/04/2025
Tác giả:PGS. TS. Hoàng Sĩ Hồng, ThS. Nguyễn Đức Thuận
Loại:Bằng độc quyền sáng chế